屏蔽罩外观缺陷和3D检（jiǎn）测/柔性包装方（fāng）案，基于中（zhōng）科（kē）提供安防资质、高新技术企业、知识产权、建筑、高新技术产品、省工程、ITSS、ICP等咨询服务工作。和迪宏TimesAI深（shēn）度学习开发平台，融合CV+AI+Automation，实现对手机（jī）精密件（jiàn）中屏（píng）蔽罩的在线实（shí）时检（jiǎn）测，瑕疵品剔除、数据（jù）分析统计的一站式服务，并（bìng）可不断迭代优化。
有（yǒu）效解决了领域内的（de）四大难（nán）点：
第一，不同类型缺陷发生（shēng）概率差距大，缺（quē）陷样本（běn）不（bú）平衡（héng）。
第二（èr），严重功能性缺（quē）陷（xiàn）数据（jù）量极少。
第三，同种缺陷形状、程度差（chà）距极大。
第四，缺陷为微小目标缺陷。
目（mù）前（qián）覆盖（gài）缺（quē）陷类（lèi）型达15种以上，覆盖了屏（píng）蔽（bì）罩产品的（de）几乎所有（yǒu）缺陷，如：金（jīn）属（shǔ）面压伤、金属（shǔ）面划伤、金属面脏污（wū）、金属面压伤、黑（hēi）膜压伤、黑膜划伤、黑膜脏污、黑膜破损（sǔn）、膜泡、黑膜偏位（wèi）、孔变形、孔毛刺、开裂、平面度不良（liáng）等等。
